新品分享 | 炭黑分散度檢測(cè)儀上線，快速解析材料分散狀態(tài)！←點(diǎn)擊前方鏈接進(jìn)行詳細(xì)了解

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炭黑作為高分子材料中常用的功能填料，其分散程度直接影響著材料的力學(xué)強(qiáng)度、電性能與外觀質(zhì)量。在聚烯烴管材、管件和混配料生產(chǎn)過程中，如何有效評(píng)估其分散狀態(tài)成為材料檢測(cè)中的關(guān)鍵一環(huán)。應(yīng)對(duì)這一檢測(cè)需求，優(yōu)云譜于近日新款推出的炭黑分散度檢測(cè)儀YP-TF，符合GB/T 18251-2019標(biāo)準(zhǔn)，助力企業(yè)實(shí)現(xiàn)更高水平的質(zhì)量管控與技術(shù)創(chuàng)新。

一、產(chǎn)品概述

炭黑分散度檢測(cè)儀通過圖像分析技術(shù)，精準(zhǔn)提取炭黑粒團(tuán)的尺度、形態(tài)及分布信息，并建立起其與宏觀性能（如抗靜電性、吸濕性、力學(xué)性能）之間的關(guān)聯(lián)，有效用于材料配方優(yōu)化、工藝控制與新品研發(fā)。其顯微成像系統(tǒng)配合高分辨率CMOS傳感器，實(shí)現(xiàn)對(duì)從微米到毫米級(jí)顆粒的監(jiān)測(cè)。

二、核心優(yōu)勢(shì)

圖像識(shí)別精準(zhǔn)：采用專業(yè)圖像分析算法，自動(dòng)/手動(dòng)分割圖像，支持局部區(qū)域分析；

粒徑分析范圍廣：支持0.5μm—1cm炭黑粒團(tuán)檢測(cè)；

顯微成像清晰：炭黑分散度檢測(cè)儀配備500萬像素CMOS成像器與專業(yè)顯微鏡，圖像分辨率高達(dá)2592×1944；

圖像存儲(chǔ)靈活：多種圖像尺寸可選，支持單張保存與批量處理；

結(jié)果輸出豐富：可導(dǎo)出灰度分布圖、粒徑分布圖、圖像報(bào)告等，支持Excel與PDF格式；

用戶自定義圖庫：支持標(biāo)準(zhǔn)圖庫建立，便于對(duì)照分析；

系統(tǒng)兼容性強(qiáng)：兼容Windows XP/7/10系統(tǒng)，采用USB2.0接口，適配多種采集設(shè)備；

測(cè)量功能全面：支持移動(dòng)標(biāo)尺與任意兩點(diǎn)距離測(cè)量，方便對(duì)局部進(jìn)行高精度分析。

三、軟件功能簡(jiǎn)介

炭黑分散度檢測(cè)儀配套軟件功能齊全，界面簡(jiǎn)潔直觀，主要包括以下六大模塊：

炭黑圖像處理：支持圖像增強(qiáng)、分割與二值化處理；

圖像采集：實(shí)時(shí)采集顯微圖像并支持多尺寸存儲(chǔ)；

系統(tǒng)標(biāo)定：提供測(cè)微標(biāo)尺，支持像素校準(zhǔn)與圖像校正；

等級(jí)判斷：自動(dòng)評(píng)定分散等級(jí)，結(jié)果可溯源；

圖庫建立：支持用戶自定義標(biāo)準(zhǔn)圖庫管理；

報(bào)告輸出：自動(dòng)生成包含圖像、參數(shù)和分布圖的多樣化檢測(cè)報(bào)告。

四、檢測(cè)報(bào)告內(nèi)容

報(bào)告涵蓋樣品名稱、參考標(biāo)準(zhǔn)、原始圖像、灰度圖、粒徑分布圖、二值化參數(shù)及分析結(jié)果。用戶可通過右鍵或菜單功能將報(bào)告導(dǎo)出為bmp圖片格式或PDF文檔，方便存檔與交流。

炭黑分散度檢測(cè)儀不僅是材料品質(zhì)的“顯微鏡"，更是制程控制與產(chǎn)品開發(fā)的“助推器"。歡迎了解更多，共探炭黑分散精密檢測(cè)新路徑！